美国OEwaves公司
2000 年 8 月，OEwaves 于美国加利福尼亚州成立，始终专注于将前沿概念性的微波光学技术转化为现实产品，推动其广泛应用于光通信、雷达以及测量系统领域。公司技术实力雄厚，拥有多达 126 项专利，其中微波光子领域专利超 30 项。这一卓越成果使其在电气和电子工程师协会（IEEE）半导体制造专利权排名中位居前 20 名，还荣获了两个著名的 SPIE Prism 奖、IEEE Sawyer 奖及 Patrick Soon-Shiong 创新奖等无数奖项。
OEwaves 的核心技术包括光电振荡器（OEO）和回音壁模式的谐振腔（WGM）。基于这些技术，公司研发出零差测试系统，能够精准测量激光器产品的相位噪声和频率噪声。同时，利用专业的 WGM 光学谐振腔搭配晶线材料，成功制造出高品质因子（Q）的激光器与光学滤波器，并设计出新颖的光学微波接收机结构。这些技术成果不仅大幅缩减了产品尺寸、降低了功耗，还显著提升了产品性能。此外，通过应用光电反馈回路技术，公司生产的激光器光学性能得到了极大提升。
在产品方面，公司的核心产品激光线宽/频率噪声测试仪尤为突出。该仪器采用零差方法自动测量，能精准检测超低相位噪声的激光器光源。借助便捷的软件界面，可瞬间完成对 10Hz 以下线宽激光器的测试，无需复杂系统搭建。其零差测试法测量范围广，无需额外超窄激光器，还能同时测试相位/频率噪声及相对噪声强度（RIN）。
OEwaves 的超窄线宽激光器模块，配备高精度驱动控制单元与具有高 Q 值及 WGM 结构微型谐振腔的 OEwaves 激光器种子源。通过谐振腔回波反馈机制锁定商用激光器，实现模块自注射平衡，并利用集成电路控制排除外界环境干扰。该激光器模块相位噪声远低于传统产品，有力改善了雷达、通讯及测试系统等领域的应用测量水平，为行业发展注入强劲动力。
