Zepren BOSA系列高分辨率光谱分析仪，是依托西班牙萨拉戈萨大学顶尖光子技术团队，专为解决高端光子学测试痛点而打造的旗舰级精密仪器。设备搭载独家布里渊散射核心技术，突破了传统光谱仪的性能局限，实现了业界领先的皮米级（0.08pm）超高光谱分辨率，为窄线宽激光器、高速光信号及各类光器件的精细光谱分析提供了坚实保障。
区别于传统方案，BOSA系列产品凭借其独特的技术架构，实现了极低杂散光抑制与无测量伪影的卓越表现，彻底避免了传统设备常见的光谱畸变、旁瓣干扰等问题，测量结果真实可靠，能够精准还原信号的细微特征，为研发与质检环节提供了无可替代的数据支撑。
产品全面覆盖 O/S/C/L 四大主流光通信波段，支持从基础光谱扫描到高阶信号分析的全场景测试，可精准完成窄线宽激光器线宽表征、高速光信号啁啾分析、无源 / 有源光器件光谱特性检测等复杂测试任务，适配光通信、激光研发、光纤传感、量子光学等多个前沿领域的严苛测试需求。凭借硬核的技术壁垒、稳定的性能表现与可靠的测试精度，Zepren BOSA系列产品已成为全球众多高校科研实验室、企业研发中心与产线质检环节的首选设备，为光子学领域的技术创新与产品质量控制提供了专业、高效的高端测试解决方案。
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技术指标 |
参数 |
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光学分辨率(FWHM) |
10 MHz |
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校准功率范围 |
+13 ~ - 70 dBm |
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无杂散动态范围 |
>80dB |
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波长基准 |
线性化+绝对基准 |
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功率精度 |
±0.5dB |
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波长精度 |
±0.5 pm / ±1.0 pm (O band) |
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测量速度 |
10 nm/s |
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选项10 - 可调谐激光器输出 |
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调谐速度 |
10, 20, 40 或 100 nm/s |
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输出功率 |
>1 mW |
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选项20 - 组件测量 |
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波长精度 |
±1.0 pm / ±2.0 pm (O band) |
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功率精度 |
±0.2 dB |
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偏振测量 |
两个正交偏振态；搭配选项30可测PDL |
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测量时间 |
1 s for 100 nm 或 1s for 10 nm |
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选项30 - 光谱偏振测量 |
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偏振重复性 |
±5° |
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温度依赖性 |
±0.2°/°C |
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测量时间 |
6 scans at 10 nm/s |
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偏振灵敏度 |
-40 dBm |
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选项40 - 相位测量 |
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带宽 |
80 MHz ~ full span |
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信号频率范围 |
70 MHz ~ 2 GHz |
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相位精度 |
±1° |
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测量时间 |
1 s for 10 nm |
