线宽测试仪及RIN噪声分析仪 OE4000
线宽测试仪及RIN噪声分析仪 OE4000
厂家
美国OEwaves公司
简介
OE4000 是行业技术领先的高端激光线宽相位噪声综合分析仪,面向窄线宽激光器、相干光通信、光纤传感与量子光学等领域精心研发,凭借独创自研测量架构,突破传统测试瓶颈,具备突出的技术领先性与应用优势。
设备采用领先自研零差检测技术,无需外置低噪声参考光源,简化测试链路、降低使用成本,同时拥有业界领先的超高测量灵敏度,可精准解析低至 0.5Hz 超窄激光线宽,相位噪声本底低至 - 160dBc/Hz,细微频率与相位波动均可精准捕捉,测量精度与稳定性稳居行业前列。
支持瞬时线宽、扩展 FWHM 线宽双模式分析,偏移频率可达40GHz,分辨率带宽可调范围广,兼顾超高精度与宽量程测试需求。波长覆盖 400–2200nm 超宽波段,兼容可见光至近红外各类激光器,适配科研研发与商业化量产全场景。
整机集成 RIN 相对强度噪声、实时频率监测等扩展功能,一机多能、配置灵活。搭载全自动实时测量模式与可视化操作界面,上手简单、测试高效;3U 机架式结构易于集成部署。凭借技术架构领先、测量性能领先、适配场景广泛等核心亮点,成为激光研发、相干通信、高端光器件质检领域的标杆级精密测试设备。

  • 产品信息
  • 产品特点: · 超窄线宽/频率噪声测试
    · 快速实时测量
    · 全自动测试
    · 无需参考光源
    · 界面简单实用
    · 接受客户定制,升级
    系统应用: · 激光器线宽测量
    · 光噪声分析







    参数

    1530-1565nm输入

    频率噪声偏差

    10Hz

    100Hz

    1KHz

    1MHz

    标准噪底

    250 Hz/√Hz

    50 Hz/√Hz

    10 Hz/√Hz

    3 Hz/√Hz

    超低噪底选项

    50 Hz/√Hz

    10 Hz/√Hz

    2 Hz/√Hz

    0.2 Hz/√Hz

    相位噪底

    -140 ± 2 dBc/Hz > 1 MHz

    线宽测试范围(FWHM

    1 KHz – 10MHz (<10 ms)

    光输入功率范围

    +5 to +15 dBm (PM-FC/APC)

    偏差频率范围

    10Hz - 1MHz

    测量类型

    零差相位/频率噪声,可选测试RIN(Noise Floor: -160 ± 2 dB/Hz > 1 MHz)

    数据接口

    HDD /USB

    带宽分辨率

    0.1 Hz - 200 kHz

    操作温度范围

    15° - 35° C

    供电

    110/120 or 220/240 Vac, 50/60 Hz

    尺寸

    3U x 19” Rack Mount

    可配选项

    低或高功率输入范围

    -10+20 dBm范围内最多15db

    客户定制输入波长

    定制波段630-2200 nm,尺寸达到9U

    超低噪底

    FWHM线宽测试范围3Hz – 30kHz (< 10ms)

    扩展补偿频率范围

    相位/频率噪声最低1 Hz或者最高2GHz

    RIN测试

    相对强度噪声最大到40GHz,尺寸可能增加

微信咨询

电话咨询

24小时电话
010-63780508

联系我们

返回顶部