OEwaves线宽测试仪及RIN噪声分析仪
OEwaves线宽测试仪及RIN噪声分析仪
厂家
美国OEwaves公司
简介
美国OEwaves公司的超窄激光线宽/频率噪声测试仪利用零差方法进行自动测量,能够准确测试超低相位噪声的激光器光源。通过方便快捷的软件界面进行操作,能够瞬间测试3Hz以下线宽的激光器,无需复杂的搭建系统。该系统利用零差测试法,测量覆盖范围大,无需额外的超窄激光器,同时系统还能够测试相位/频率噪声及相对强度噪声(RIN)。
  • 产品信息
  • 产品特点: · 超窄线宽/频率噪声测试
    · 快速实时测量
    · 全自动测试
    · 无需参考光源
    · 界面简单实用
    · 接受客户定制,升级
    系统应用: · 激光器线宽测量
    · 光噪声分析







    参数

    1530-1565nm输入

    频率噪声偏差

    10Hz

    100Hz

    1KHz

    1MHz

    标准噪底

    250 Hz/√Hz

    50 Hz/√Hz

    10 Hz/√Hz

    3 Hz/√Hz

    超低噪底选项

    50 Hz/√Hz

    10 Hz/√Hz

    2 Hz/√Hz

    0.2 Hz/√Hz

    相位噪底

    -140 ± 2 dBc/Hz > 1 MHz

    线宽测试范围(FWHM

    1 KHz – 10MHz (<10 ms)

    光输入功率范围

    +5 to +15 dBm (PM-FC/APC)

    偏差频率范围

    10Hz - 1MHz

    测量类型

    零差相位/频率噪声,可选测试RIN(Noise Floor: -160 ± 2 dB/Hz > 1 MHz)

    数据接口

    HDD /USB

    带宽分辨率

    0.1 Hz - 200 kHz

    操作温度范围

    15° - 35° C

    供电

    110/120 or 220/240 Vac, 50/60 Hz

    尺寸

    3U x 19” Rack Mount

    可配选项

    低或高功率输入范围

    -10+20 dBm范围内最多15db

    客户定制输入波长

    定制波段630-2200 nm,尺寸达到9U

    超低噪底

    FWHM线宽测试范围3Hz – 30kHz (< 10ms)

    扩展补偿频率范围

    相位/频率噪声最低1 Hz或者最高2GHz

    RIN测试

    相对强度噪声最大到40GHz,尺寸可能增加